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富思杰-02 平板DDR芯片测试治具

材料:采用翻盖式自平衡铝合金测试座和高精密双头探针,锡球间距0.4mm 下针直径0.26mm.优点:整体式铝合金盒体测试座模更好的提高测试效率。

产品介绍

材料:采用翻盖式自平衡铝合金测试座和高精密双头探针,锡球间距0.4mm 下针直径0.26mm.

优点:整体式铝合金盒体测试座模更好的提高测试效率。

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