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富思杰-08 翻盖式自平衡芯片测试座

材料:采用翻盖式自平衡铝合金结构优点:测试效率高,适合锡点少、锡球间距宽的芯片或模块板测试。

产品介绍

材料:采用翻盖式自平衡铝合金结构 

优点:测试效率高,适合锡点少、锡球间距宽的芯片或模块板测试。

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